Друга информация
Съдържание
1. Увод 3
2. Литературно проучване 4
2.1. Интегрални схеми, видове 4
2.2. Производствени дефекти в съвременното производство на микроелектронните изделия 5
2.3. Методи за тестване на интегрални схеми 6
2.4. Ефект на Хол. Сензори на Хол, видове. Методи за тестване на сензори на Хол 12
2.5. Тестова апаратура - общ преглед, структура и принципи 18
3. Избор на метод на тестване 30
4. Разработване на тестово решение и алгоритми 37
4.1. Контактен тест 39
4.2. Измерване на захранващите напрежения и маса 43
4.3. Тест на консумация (Idd тест) 46
4.4. Тест на късо съединение - тока на изхода при свързване на Out към Vdd и Out към GND 48
4.5. Измерване на изходното напрежение (Voq) 51
4.6. Магнитен тест 55
5. Анализ и оценяване на получените резултати 59
6. Заключение 62
Използвана литература 63